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產品簡介
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粒度檢測粒徑粉體分布噴霧激光粒度分析儀直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；
拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數量更多，測試結果更具代表性；
自動分割粘連顆粒 采用更良好的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能，使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況，為后續處理奠定基礎；
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程，操作簡便且結果可靠；
自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現進一步處理；
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒，采用*的處理算法，對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結果，提高球形顆粒的分析效率。
適用范圍:
粒度檢測粒徑粉體分布噴霧激光粒度分析儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業。
技術參數
規格型號 | BOS-DT180 | |
執行標準 | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
成像系統 | 測試范圍 | 4-400μm |
光學放大倍數 | 150-1000倍可調，大可達1000倍 | |
大分辨率 | 0.5μm | |
攝像系統 | 重復性 | ＜1% |
準確性 | ＜1% | |
光源 | 采用藍色高亮LED點光源 | |
顆粒識別速度 | ＞10000個每分鐘 | |
攝像機 | 采用高速攝像機，成像速度不低于120幀每秒 | |
進樣方式 | 采用鞘流進樣方式 | |
軟件功能 | 粒度分析 | 包括粒度分布、典型值、大粒徑、特定區間含量、大于或小于某粒徑的含量 |
粒形分析 | 長徑比及分布、圓形度及分布、顆粒圖像 | |
顆粒計數 | 計量一定體積液體中的顆粒個數 | |
圓形度分析 | 能快速分析顆粒的圓形度 | |
比例尺標定 | 通過國家標準測微尺標定后，可通過顆粒度標準物質驗證系統的準確性。 | |
單個顆粒數據 | 可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數的分析。 | |
任務管理機制 | 嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。 | |
報告輸出 | 分析報告可以多種形式呈現，同時可轉換成PDF、BMP、Word、Excel等格式 | |
整體分布特征參數 | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數 | |
報告參數 | 整體頻率分布累計分布 | 顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。 |
統計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統計平均徑 | |
形狀參數 | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據 | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中 | |
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